机械工业仪器仪表综合技术经济研究所

北京综所高低温实验室，提供高低温摸底租场服务，第三方测机构，--AS和CMA国认可测机构，出具测报告。提供GBT2423标准高低温测试报告，高低温试验属于气候环境试验中比较通用和普遍的测项目类型之，高低温气候环境试验模拟干热和干冷大气环境，如夏天的天热，冬天的天冷。

高低温环境试验测咨询彭工136-9109-3503

高低温环境试验分为高温工作、低温工作、低温贮存、高温贮存测试类型。

实验室具备从0.2m3至16m3的不同大小尺寸的高低温温度试验系统，具备独立的搭接样品的空间，试验箱侧均具备出线端子，可以引出电源线或信号线进行产品的工作操作试验。

高低温测试试验是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应。

  高低温测试试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间。

高低温High and low temperature testing试验方：

预处：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。

初步测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。

样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此，在通电状态下，通常容易通过低温试验，必须先冻透，再通电试验。

在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱（室）内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。

进行老化测试，观察是否存在数据对比错误。

高温和低温试验分别重10次。

重上述实验方，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。

恢：试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢，直至试验样品达到温度稳定。

后测：根据标准中的程度等方评估测结果。

实验室安全按照--AS测范围基础标准GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方 试验 A：低温》 和 GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方 试验 B：高温》标准进行高低温工作、高低温贮存、高低温限、干冷干热、温度变化、高温老化、高温寿、高低温耐受试验技术服务，出具带有--AS,CMA印章的第三方测报告。

特别提示：以上北京高低温测试机构--AS实验室摸底租场测试服务的供应由机械工业仪器仪表综合技术经济研究所自行免费发布，仅供参考。该北京高低温测试机构--AS实验室摸底租场测试服务产品信息的真实性、准确性及合法性未证实。请谨慎采用，风险自负。如需了解更多关于北京高低温测试机构--AS实验室摸底租场测试服务的产品规格型号及批发价格或产品图片等详细参数说明资料；您可以进入机械工业仪器仪表综合技术经济研究所网站咨询。本页收录查询：北京高低温测试机构--AS实验室摸底租场测试服务
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